Titre d'Etat

État Membre : Finlande

FI - participation

La République de Finlande est devenue État Membre le 31 août 1923.

Matrice d'un état par comité

Participation des NMI/DIs dans les CCs


Member
CCL
Member
CCM
Member
CCT
Member
CCU

État CIPM MRA

CIPM MRA

Signataire/NMI

VTT Technical Research Centre of Finland Ltd, Centre for Metrology / Mittatekniikan keskus ROR logo

MIKES

Espoo

Participe au CIPM MRA depuis le : 14 octobre 1999
Signé par: Ulla LÄHTEENMÄKI (à l'époque directeur, MIKES)

Institut(s) désigné(s)

Finnish Geospatial Research Institute ROR logo

Pour la masse et les grandeurs apparentées : l'accélération due à la pesanteur ; pour la métrologie des longueurs : les mesures de longues distances, les bases géodésiques, les mesures électro-optiques de longues distances, les mires de nivellement, les systèmes de nivellement de précision

FGI

Masala

Aalto University School of Electrical Engineering ROR logo

Pour la photométrie et la radiométrie

MIKES-Aalto

Aalto

Finnish Meteorological Institute ROR logo

Pour la chimie : les gaz

MIKES-FMI

Helsinki

Finnish Environment Institute, Laboratories ROR logo

Pour la chimie : l'eau

MIKES-SYKE

Helsinki

Radiation and Nuclear Safety Authority ROR logo

Pour les rayonnements ionisants

STUK

Helsinki

FI - KCDB links

Reconnaissance internationale

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Logo du CIPM MRA

Les instituts suivants sont autorisés à utiliser le logo du CIPM MRA, pour les domaines de mesure étayés par des aptitudes en matière de mesures et d'étalonnages (CMC) publiées dans la KCDB:

comparison-piloted-by-the-BIPM-title

Services du BIPM

 

Comparaisons pilotées par le BIPM

FI - comparisons-piloted-by-the-BIPM - fr

BIPM services-certificates-TITLE

 

Certificats d'étalonnage émis par le BIPM

 

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Filtre de recherche :

Certificat d'étalonnage No.50 (2024)

Ion chamber in Mo/Mo x-rays, Radcal RC6M-10248
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.49 (2024)

Ion chamber in W/Mo x-rays, Radcal RC6M-10248
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.48 (2024)

Ion chamber in x-rays, Radcal RC6M-10248
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.132 (2022)

Ion chamber in medium-energy x-rays, FC65G-3360
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.131 (2022)

Ion chamber in Co-60, FC65G-3360
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.108 (2022)

1 kg Pt-Ir mass prototype, 23
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.80 (2021)

100 pF Standard Capacitor, sn 01193
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.79 (2021)

100 pF Standard Capacitor, sn 01192
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.78 (2021)

10 pF Standard Capacitor, sn 01195
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.77 (2021)

10 pF Standard Capacitor, sn 01194
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.119 (2019)

Ion chamber, No. FC65-G-3360 in medium energy x-rays
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.118 (2019)

Ion chamber, No. FC65G-3360 in Co-60
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.117 (2019)

Ion chamber, No. PTW23344-620 in mammography beams
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.116 (2019)

Ion chamber, No. PTW23344-620 in low energy x-rays
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.28 (2016)

Ionization chamber FC65-G, No. 3360, in a 60Co gamma-ray beam
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.27 (2016)

Ionization chamber FC65-G, No. 3360, in medium-energy x-rays
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.13 (2016)

10 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling model AH11A, No. 01195
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.12 (2016)

10 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling model AH11A, No. 01194
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.11 (2016)

100 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling model AH11A, No. 01193
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.10 (2016)

100 pF capacitance standard, Andeen-Hagerling model AH11A, No. 01192
  • FI
  • MIKES

Certificat d'étalonnage No.76 (2014)

Ionization chamber NE 2561, No. 097 in a 60Co gamma-ray beam
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.75 (2014)

Ionization chamber NE 2561, No. 097 in medium-energy x-rays
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.74 (2014)

Ionization chamber PTW 23344, No. 620, in mammography x-rays
  • FI
  • STUK

Certificat d'étalonnage No.73 (2014)

Ionization chamber PTW 23344, No. 620 in low-energy x-rays
  • FI
  • STUK

CBKT

CBKT

Participation au programme CBKT du BIPM

KCDB 2.0 - CMC Writers (2024)

M. Mika Huovinen (MIKES) - Participant

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BIPM/RMO forum: Supporting RMO Secretariats (2023)

M. Mikko Merimaa (MIKES) - Participant

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KCDB 2.0 - CMC Writers (2022)

M. Teemu Näykki (MIKES-SYKE) - Participant

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KCDB 2.0 – Comparisons (2022)

M. Esa-Pekka Suomalainen (VTT Information Technology) - Participant

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2021 - BIPM-ILAC joint webinar: Mining KCDB 2.0 in the context of accreditation (2021)

M. Jenni Harjuoja - Participant

M. Jorma Heikkinen - Participant

M. Jaana Järvinen (MIKES) - Participant

M. Vesa Koistinen - Participant

M. Katriina Luoma - Participant

M. Jani Malin - Participant

M. Tapio Rautkari - Participant

M. Tero T. Ristonen - Participant

M. Karri Saarnio (MIKES-FMI) - Participant

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KCDB 2.0 - CMC Writers (2021)

Mme Paula Toroi (STUK) - Participant

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KCDB 2.0 - CMC Writers (2020)

Mme Reetta Nylund (STUK) - Participant

M. Teemu Siiskonen (STUK) - Participant

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2017 - EURAMET: QMS review (2017)

M. Martti Heinonen (MIKES) - Conférencier

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Laboratoires nationaux ayant soutenu une initiative du programme CBKT (totalement ou partiellement)

Aucune initiative soutenue jusqu'à présent.

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État Membre / Associé