M. Sébastien Ducourtieux
BIPM Workshop on International needs for Metrology at the Nanoscale
Membres
Du 18 au 19 février 2010
Travailler ensemble afin de garantir la comparabilité et la reconnaissance au niveau international des résultats de mesure
BIPM Workshop on International needs for Metrology at the Nanoscale
Membres
Du 18 au 19 février 2010