Mme Jennifer Decker
Comité consultatif des longueurs
Experts
Du 15 au 16 septembre 2005
CGPM - Open Session
Participant
16 novembre 2018
BIPM Workshop on International needs for Metrology at the Nanoscale
Membres
Du 18 au 19 février 2010
Working Group on Dimensional Metrology
Excusé
Du 08 au 09 juin 2009